超多辨别场发射点成功测试电子设备器件光学透射电镜 SEM5000X
SEM5000X有的是款超多辨别率场发射点成功测试电子设备器件光学透射电镜,其辨别率做到了上升性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV。高辨别物镜来设计制作、直流电隧道口技(SuperTun nel)或是镜筒加工工艺更新,建立了低的电压辨别率的拓宽渠道骤上升。新 来设计制作的样件仓,突出界面扩大至16个,飞速换样仓较大 化认可8寸晶圆(较大 化内直径208 mm),大程度突出
广泛应用范围图。
- 更新日期:2024-07-22
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